Artikel Ilmiah : H1A008049 a.n. SANDI WINARYO

Kembali Update Delete

NIMH1A008049
NamamhsSANDI WINARYO
Judul ArtikelAnalisis Quantitative Structure-Property Relationship(QSPR) Nilai Critical Micelle Concentration (CMC) Surfaktan Anionik
Abstrak (Bhs. Indonesia)Penelitian ini dilakukan dengan tujuan menyusun persamaan matematika untuk menghitung CMC teoritis surfaktan anionik. Penelitian ini dilakukan dengan penggambaran setiap surfaktan anionik ke model senyawa tiga dimensi, dilanjutkan dengan mengoptimasi model struktur surfaktan anionik dengan metode perhitungan AM1. Selanjutnya, perhitungan deskriptor (metode QSPR) untuk dianalisis statistik Multiple linear Regression (MLR). Hasil perhitungan statistik menunjukkan bahwa untuk menghitung CMC teoritis surfaktan anionik dapat menggunakan persamaan QSPR berikut:
Log CMC = 4,157 + 0,118qC1 + 7,698qC2 + 0,425α – 0,01µ - 0,129RD – 0,138Log P + 0,021BM + 0Vvdw – 0,034Avdw
dengan n = 100 r = 0,927 r2 = 0,860 SE = 0,352523 F = 30,8889743 PRESS = 23,50614139.
Abtrak (Bhs. Inggris)This research determine the mathematical equation which calculate the CMC theoretical anionic surfactant. The research was conducted by the depiction of each surfactant anionic three-dimensional compound models, followed by optimizing the model structure anionic surfactant by using AM1 calculation method. Furthermore , the calculation of descriptors ( QSPR method), then it was analyzed statistically using Multiple Linear Regression (MLR). The results of statistical calculations showed that to calculate the theoretical CMC anionic surfactant can use the QSPR equation:
Log CMC = 4.157 + 0.118qC1 + 7.698qC2 + 0.425α – 0.01µ - 0.129RD – 0.138Log P + 0.021BM + 0Vvdw – 0.034Avdw
With n = 100 r = 0.927 r2 = 0.860 SE = 0.352523 F = 30.8889743 PRESS = 23.50614139
Kata kunciSurfaktan anionik, QSPR, CMC
Pembimbing 1Dr. Ponco Iswanto, M.Si
Pembimbing 2Dra. Eva Vaulina YD, M.Si
Pembimbing 3
Tahun2015
Jumlah Halaman8
Tgl. Entri2015-07-27 14:41:01.591148
Cetak Bukti Unggah
© Universitas Jenderal Soedirman 2026 All rights reserved.